Диоды полупроводниковые типов Д223, Д223А, Д223Б для устройств широкого применения Semiconductors diodes types of Д 223, Д 223a, Д 223Б for widely used devices
Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения Tunnel diodes. Types aИ301a, aИ301, aИ301b, aИ301Г for widely used devices
Диоды полупроводниковые. Основные параметры Semiconductor diodes. Basic parameters Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы, диоды СВЧ, выпрямительные столбы и импульсные диодные матрицы (сборки)
Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ