• Москва

    +7 (495) 266-61-73

    otdel@paritest.ru

База кодов ГОСТ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКА → Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы

31.260. Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11

  • ГОСТ 2.746-68.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Единая система конструкторской документации. Обозначения условные графические в схемах. Генераторы и усилители квантовые
    Unified system for design documentation. Graphic identifications in schemes. Quantum generators and amplifiers
    Настоящий стандарт распространяется на обозначения условные графические в схемах на генераторы и усилители квантовые
  • ГОСТ 4.431-86.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система показателей качества продукции. Приемники излучения фотоэлектрические. Номенклатура показателей
    Product-quality index system. Photoelectric detectors. Nomenclature of indices
    Стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества фотоэлектрическиз полупроводниковых приемников излучения и фотоприемных устройств производственно-технического назначения и народного потребления, включаемых в ТЗ на НИР, ТЗ на ОКР, ТУ, КУ
  • ГОСТ 5.2105-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции
    Laser ellipsometric microscope ЛЭМ-2. Quality requirements of sertified products
    Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов
  • ГОСТ 12.1.031-81.
    утратил силу в РФ
    от: 01.08.2013
    Система стандартов безопасности труда. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения
    Occupational safety standards system. Lasers. Methods of dosimetrical control of laser radiation
    Настоящий стандарт устанавливает методы измерений параметров лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20 мкм в заданной точке пространства с целью определения степени опасности излучения для организма человека. Стандарт обязателен для всех министерств и ведомств СССР, разрабатывающих и эксплуатирующих лазеры
  • ГОСТ 2388-70.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Фотоэлементы селеновые для фотометрирования и колориметрирования пиротехнических средств. Общие технические требования
    Selenium photocells for photometric and colorimetric measurement of pirotechnical agents. General technical requirements
    Настоящий стандарт распространяется на селеновые фотоэлементы, предназначенные для фотометрирования и колориметрирования пламени пиротехнических составов.
    Стандарт устанавливает требования к фотоэлементам, применяемым при фотометрировании и колориметрировании светящегося пламени единичных световых вспышек с временем достижения максимума силы света не менее 0,001 с и модулированного света с частотой не более 100 Гц; при этом освещенность на фотоэлементе должна быть от 2 до 2000 лк
  • ГОСТ 3518-80.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Стекло оптическое бесцветное. Метод определения оптической однородности на коллиматорной установке
    Optical glass. Method for determination of optical homogeneity on collimator
    Настоящий стандарт распространяется на оптическое бесцветное стекло в заготовках и деталях и устанавливает метод определения оптической однородности на коллиматорной установке с помощью штриховых мир и точечных диафрагм
  • ГОСТ 3519-91.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы оптические. Методы определения двулучепреломления
    Optical materials. Methods of determination of birefringence
    Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветное, цветное, кварцевое стекло, стекло с особыми свойствами, кристаллы, относящиеся к кубической сингонии, и поликристаллические материалы и устанавливает методы определения двулучепреломления на поляризационном измерительном компенсаторе, полярископе-поляриметре и фазовом поляриметре в видимой области спектра.
    Стандарт не распространяется на оптические кристаллы, вращающие плоскость поляризации, а также одноосные и двуосные кристаллы в случае распространения излучения в направлениях, отличных от оптических осей и бинормалей
  • ГОСТ 3520-92.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы оптические. Методы определения показателей ослабления
    Optical materials. Methods for determination of linear attenuation coefficient
    Настоящий стандарт распространяется на оптические материалы: стекло бесцветное и цветное, кварцевое стекло, кристаллические материалы и устанавливает используемые при контроле методы определения спектрального показателя ослабления в области спектра от 0,1 до 25 мкм и показателя ослабления для источника А по ГОСТ 7721
  • ГОСТ 3521-81.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Стекло оптическое. Метод определения бессвильности
    Optical glass. Method for determination of unstriae
    Настоящий стандарт распространяется на оптическое стекло в заготовках, деталях и в виде сырьевого стекла в различных формах исполнения и устанавливает метод определения бессвильности
  • ГОСТ 3522-81.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Материалы оптические. Метод определения пузырности
    Optical glass. Method for determination of bubbles
    Настоящий стандарт распространяется на оптические неорганические материалы: бесцветные, цветные и кварцевые стекла, стекла с особыми свойствами, кристаллы и оптические керамику в заготовках, деталях и в виде сырьевого материала

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11